Ceramic Inspection System

시스템 개요

반도체 세라믹 표면의 미세 이물질 및 크랙 검사를 자동으로 수행하는 시스템입니다.

자동으로 150mm X 150mm의 유동 크기 샘플을 자동스캔하고 미세 이물을 자동 검출 및 자동 선별합니다.
멀티 스레딩 분산처리 기술을 구현하여 CPU 유휴 자원없이 최대 성능을 실현합니다.

검출된 검출결과를 관찰 가능하며, 실시간 타일링 맵에서 검사 완료후 이물질 관찰을 위한 모션 컨트롤을 지원합니다.

Specification